Caractérisation structurale d'interfaces et de couches minces par diffraction des rayons X - Université de Limoges
Communication Dans Un Congrès Année : 2019

Caractérisation structurale d'interfaces et de couches minces par diffraction des rayons X

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02438470 , version 1 (14-01-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02438470 , version 1

Citer

Alexandre Boulle. Caractérisation structurale d'interfaces et de couches minces par diffraction des rayons X. MATV2L Journees 2019 - Milieux 2D, Jan 2019, Blois, France. ⟨hal-02438470⟩
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