Characterization of thermal microcracking in refractory Zr02-SiO2 by means of X-ray refraction technique - Université de Limoges
Communication Dans Un Congrès Année : 2021

Characterization of thermal microcracking in refractory Zr02-SiO2 by means of X-ray refraction technique

R. Laquai
  • Fonction : Auteur
Fanny Gouraud
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 770733
  • IdRef : 197431062
B.R. Müller
  • Fonction : Auteur
G. Bruno
  • Fonction : Auteur

Domaines

Chimie
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-04712339 , version 1 (27-09-2024)

Identifiants

  • HAL Id : hal-04712339 , version 1

Citer

R. Laquai, Fanny Gouraud, B.R. Müller, Marc Huger, Thierry Chotard, et al.. Characterization of thermal microcracking in refractory Zr02-SiO2 by means of X-ray refraction technique. European Congress and Exhibition On Advanced Materials and Processes (EUROMAT 2021), Sep 2021, Conférence en virtuel, Austria. ⟨hal-04712339⟩
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